商品详情
手动白光干涉仪SIS
请选择 型号/数量
商品详情
| 品牌： | SNU | 型号： | SIS 1200 | 操作方式： | 手动 |
| 功能： | 检测、观察、分析 | 精度 ： | 1nm | ||
| 其它型号： | SIS 2000 | ||||
·产品介绍
白光干涉仪SIS系列采用增加相位扫描干涉技术，是专为准确测量表面轮廓、粗糙度、台阶高度和其他表面参数而设计的微纳米测量系统,，为韩国SAMSUNG全球唯一指定供应商，LPL友好俱乐部成员，清华大学，台湾大学，首尔大学友好合作伙伴。
·产品特点
1、非接触式测量：避免物件受损。
2、三维表面测量：表面高度测量范围为1nm-200μm。
3、多重视野镜片：方便物镜的快速切换。
4、纳米级分辨率：垂直分辨率可以达到0.1nm。
5、高速数字信号处理器：实现测量仅需要几秒钟。
6、扫描仪：采用闭环控制系统。
7、工作台：气动装置、抗震、抗压。
8、测量软件：基于windows 操作系统的用户界面，强大而快速的运算。
2、三维表面测量：表面高度测量范围为1nm-200μm。
3、多重视野镜片：方便物镜的快速切换。
4、纳米级分辨率：垂直分辨率可以达到0.1nm。
5、高速数字信号处理器：实现测量仅需要几秒钟。
6、扫描仪：采用闭环控制系统。
7、工作台：气动装置、抗震、抗压。
8、测量软件：基于windows 操作系统的用户界面，强大而快速的运算。
·技术参数
机型 | SIS 1200 | |
工作台 | 尺寸 | 250 mm×174 mm |
倾斜度 | ±3 ° | |
测量行程 | X:150mmY:100mm | |
Z轴行程 | 50mm | |
运动方式 | 手动 | |
扫描速度 | 30μm/sec | |
垂直分辨率 | 0.1nm | |
CCD | 黑白CCD， 640×480 像素 | |
物镜安装架 | 手动导引五孔式 | |
镜头选配 | 镜头：5×、10×、20×、50× | |