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EDX8000能量色散X荧光光谱仪ROHS仪器
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EDX8000能量色散X荧光光谱仪
高精密定位测量系统，用于RoHS检测和镀层检测。在镀层检测中，该款仪器可以惊奇地逐点测试被测对象，并给出完整的含量和镀层的平面分析图谱。
◆◆技术指标:
◆分析精度: 0.05%
◆分析含量范围：1PPM-99.99%
◆测量元素：从硫至铀等75种元素
◆测量对象：粉末、固体、液体
◆分析电镀溶液中金属离子浓度
◆可分析10层以上的镀层
◆测试镀层最薄至0.005um
◆步进最小距离：0.01mm
◆测量时间：60~300秒
◆工作温度：15~30°C
◆相对湿度：< 70%
◆重量：30KG
◆工作电压：AC 110/220V
◆分析精度: 0.05%
◆分析含量范围：1PPM-99.99%
◆测量元素：从硫至铀等75种元素
◆测量对象：粉末、固体、液体
◆分析电镀溶液中金属离子浓度
◆可分析10层以上的镀层
◆测试镀层最薄至0.005um
◆步进最小距离：0.01mm
◆测量时间：60~300秒
◆工作温度：15~30°C
◆相对湿度：< 70%
◆重量：30KG
◆工作电压：AC 110/220V
◆◆配置：
◆单样品腔计
◆算机、喷墨打印机
◆硅针半导体探测器
◆放大电路
◆高低压电源
◆X光管
◆双激光定位系统
◆50至100倍物体放大
◆算机、喷墨打印机
◆硅针半导体探测器
◆放大电路
◆高低压电源
◆X光管
◆双激光定位系统
◆50至100倍物体放大