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 集成电路测试系统系统简介:

　　电路是半导体集成电路中的重要组成部分，通用中、小规模集成电路虽己应用多年，但依然在各种民用电子产品和军用电子装备中发挥着重要的作用。

由于通用中、小规模集成电路在我国电子产品和装备中占有较大的使用比例，其品质直接影响着各种电子整机和系统的性能和可靠性，因此对通用中、小规模集成电路必须进行严格的测试和筛选。
为满足各种通用中、小规模集成电路的测试需求，北京金三航科技发展有限公司自行研制生产了SHtek4250A集成电路测试系统。该系统是SHtek4250A系列电子元器件测试系统的组成部分，适用于74/54、74LS/54LS、74HC/54HC、74HCT/54HCT、CD4000等各类通用中、小规模集成电路的逻辑功能和直流参数测试。
系统测试覆盖面宽，测试精度高，性能稳定，操作使用方便，在微小电流测试方面具有独到的设计和采用特殊的工艺措施，特别适合于CMOS器件的测试要求。系统是通用中、小规模集成电路功能、参数检测及质量保证的必备设备。系统己被航天、航空、兵器、船舶、核工业、信息产业等军、民品领域的科研院所和企业广泛应用，同时也被我国的CMOS电路国军标生产线确定为指定检测设备。

集成电路测试系统产品简介:

*适用于通用中、小规模集成电路的逻辑功能和静态直流参数测试。
*测试原理符合相应的国家标准、国家军用标准和行业标准。
*3组程控电源，24个可编程I/O通道，2组可编程输入驱动电平和2组可编程输出判别电平。
*1nA 电流测试分辨力，并具有良好的测试精度和稳定性，可满足国军标CMOS电路的测试要求。
*支持OC门、OE门和3S门器件的逻辑功能和静态直流参数测试。

主要技术指标:

内 容	量 程	分辨力	精确度
VDD恒定电压	20 V	5 mV	±20 mV
VDD电流测量	400 mA, …, 4 uA（6档）	1 nA	±(0.25% reading+5LSB)
VEE恒定电压	20 V	5 mV	±25 mV
VEE电流测量	40 mA, …, 40 uA（4档）	10 nA	±(0.25% reading+5LSB)
VBB恒定电压	-20 V	5 mV	±25 mV
VBB电流测量	40 mA, …, 40 uA（4档）	1 nA	±(0.25% reading+5LSB)
PMU恒定电压	20 V	5 mV	±25 mV
PMU电压测量	±20 V, ±10 V, ±4 V, ±2 V	0.5 mV	±0.125% fs
PMU恒定电流	±400 mA, …, ±40 uA（5档）	10 nA	±(0.25% setting+5LSB)
PMU电流测量	±400 mA, …, ±4 uA（6档）	1 nA	±(0.25% reading+5LSB)
引脚驱动电压	20 V	5 mV	±50 mV
引脚比较电压	20 V	5 mV	±50 mV

集成电路测试系统主要测试参数:

参数名称	参数符号
输入箝位电压	VIK, VIK+, VIK-
输出电压	VOH, VOL
输入电流	II, IIH, IIL
输出短路电流	IOS

集成电路测试系统参数名称	参数符号
输出关态电流	IOH
输出驱动电流	IOH, IOL
输出三态电流	IOZH, IOZL
电源电流	ICCH, ICCL, ICC, IDD

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